X射線熒光光譜儀EDX4500H檢測(cè)固體/粉末中化學(xué)元素含量
粉末壓片法

固體礦石、砂巖或金屬粉末類產(chǎn)品含量一直采用滴定、比色等原始的化學(xué)分析方法進(jìn)行測(cè)定，分析方法繁瑣，人為影響因素大，且勞動(dòng)強(qiáng)度大，分析周期長，越來越不能夠滿足企業(yè)的實(shí)際測(cè)試需求，現(xiàn)推薦X射線熒光光譜法測(cè)定其中的化學(xué)元素含量，操作方法簡單，排除了人為誤差，節(jié)省了測(cè)試時(shí)間，提高工作效率，分析歩奏如下：
1.將樣品研磨至200目（研磨機(jī)）。
2.放入壓片機(jī)壓成餅，壓力在40t，保壓時(shí)間30s（壓片機(jī)）。
3.卸壓后取出樣片，吹去表面雜質(zhì)后待測(cè)。
4.將樣品放入儀器測(cè)試窗，電腦上點(diǎn)擊開始檢測(cè)，時(shí)間60-300S可調(diào)。
5.測(cè)試完成后自動(dòng)生成報(bào)告，可存為電子檔或打印。

所需設(shè)備：
1.X射線熒光光譜儀EDX4500H
2.研磨機(jī)
3.壓片機(jī)

X射線熒光光譜儀EDX4500H 技術(shù)協(xié)議

一.技術(shù)指標(biāo)：
1.1分析元素范圍：Na-U
1.2測(cè)量精度：0.05%（含量大于96%的樣品）
1.3元素測(cè)量范圍：PPM級(jí)-99.99%
1.4 高壓：5kV-50kV
1.5 管流：50μA-1000μA
1.6 能量分辨率：145±5eV
1.7 RoHS指令有害元素檢測(cè)限Cd/Pb/Cr/Hg/Br*低達(dá)2ppm（因基體不同檢出限可能存在一定差異）。
1.8 測(cè)量時(shí)間：60s-300s
1.9 計(jì)數(shù)率：計(jì)數(shù)率可高至100000cps
二.工作環(huán)境要求：
2.1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃
2.2 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%
2.3 工作電源：交流220±5V
2.4 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。